VLSI 測試系統(tǒng)

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產(chǎn)品名稱: VLSI 測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號: 3380P

產(chǎn)品展商: Chroma

產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

50/100 MHz測試頻率 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率 512數(shù)字信道管腳 (高可至576數(shù)字信道管腳) 并行測試可達(dá)512 sites同測數(shù) 32/64/128M Pattern內(nèi)存多樣彈性VI電源彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA) Real parallel Trim/Match功能時序頻率測試單位 (TFMU) AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配) SCAN向量存儲深度(高2G bits/chain) (可選配) ALPG測試選配供內(nèi)存IC用測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K) 人性化Window 7操作系統(tǒng) CRAFT C/C++ 程序語言軟件接口與3380P/3360P相同 Direct mo

VLSI 測試系統(tǒng) 的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特色

50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
512數(shù)字信道管腳
(*高可至576數(shù)字信道管腳)
并行測試可達(dá)512 sites同測數(shù)
32/64/128M Pattern內(nèi)存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高2G bits/chain) (可選配)
ALPG測試選配供內(nèi)存IC用
測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mount治具可相容于3360P probe-card
Cable mount治具可相容于3360D與3360P

為因應(yīng)未來IC芯片須具備更高速度及更多腳位及更復(fù)雜功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高且功能更強(qiáng)大。

3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(High Parallel Test)功能，除內(nèi)建獨(dú)特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512個測試芯片)，以因應(yīng)未來IC芯片更高的測試需求。

3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設(shè)計及非常具競爭性的機(jī)臺性價比。

3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用接口、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

滿足各種應(yīng)用范圍的芯片測試

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.