電池芯脈沖測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱(chēng): 電池芯脈沖測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): 19311
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
*高可輸出6kV脈沖測(cè)試(依待測(cè)物的電容量決定)
可設(shè)定的脈沖間隔時(shí)間30ms~3000ms
8種判定：
面積比較
面積差比較
二次微分偵測(cè)
**電壓峰值
第三電壓峰值
波峰比
波峰差比
接觸檢查
崩潰電壓分析模式(BDV Mode)
高取樣率(200MHz)
支持*大25通道掃描測(cè)試(19311-10搭配A190362選購(gòu))
英文/繁中/簡(jiǎn)中操作接口
支援USB隨身碟
波形、測(cè)試條件/結(jié)果儲(chǔ)存
畫(huà)面擷取
內(nèi)存數(shù)據(jù)備份
圖形化彩色顯示
標(biāo)配LAN、USB、RS232控制接口
電池芯脈沖測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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*高可輸出6kV脈沖測(cè)試(依待測(cè)物的電容量決定)
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可設(shè)定的脈沖間隔時(shí)間30ms~3000ms
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8種判定：
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面積比較
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面積差比較
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二次微分偵測(cè)
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**電壓峰值
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第三電壓峰值
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波峰比
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波峰差比
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接觸檢查
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崩潰電壓分析模式(BDV Mode)
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高取樣率(200MHz)
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支持*大25通道掃描測(cè)試(19311-10搭配A190362選購(gòu))
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英文/繁中/簡(jiǎn)中操作接口
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支援USB隨身碟
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波形、測(cè)試條件/結(jié)果儲(chǔ)存
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畫(huà)面擷取
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內(nèi)存數(shù)據(jù)備份
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圖形化彩色顯示
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標(biāo)配LAN、USB、RS232控制接口
Chroma 19311系列電池芯脈沖測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯施加高壓脈沖來(lái)檢測(cè)正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。19311系列擁有*高6kV的脈沖輸出電壓、四線(xiàn)式的電壓量測(cè)與200MHz的高速取樣率對(duì)電池芯進(jìn)行脈沖測(cè)試，使用者可依需求選擇單通道測(cè)試儀(19311)或多通道掃描測(cè)試儀(19311-10)。
19311-10機(jī)型具備10個(gè)通道，可利用掃描測(cè)試的方式做多通道切換輸出檢測(cè)，單機(jī)*多可檢測(cè)9個(gè)電池芯。搭配A190362掃描治具，*多可支持25通道，同時(shí)檢測(cè)24個(gè)電池芯。19311-10機(jī)型可快速對(duì)多個(gè)電池芯做掃描測(cè)試，此優(yōu)勢(shì)大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，適合應(yīng)用在生產(chǎn)在線(xiàn)來(lái)提高產(chǎn)能。
在鉛酸電池尚未注入電解液前，對(duì)鉛酸電池芯做高壓脈沖測(cè)試的主要目的是為了檢測(cè)電池芯里正負(fù)極板之間的絕緣距離與質(zhì)量、隔離膜是否存在、以及正負(fù)極板之間是否有短路，藉以找出劣質(zhì)或**的電池芯。因此，使用脈沖測(cè)試的檢測(cè)方式可以提升鉛酸電池芯的質(zhì)量。
Chroma 19311系列可透過(guò)內(nèi)部電感與電池芯的諧振波形來(lái)分析電池芯的絕緣質(zhì)量差異。檢測(cè)的判定功能共有8種:面積比較(Area)、面積差比較(Diff-Area)、顫動(dòng)量偵測(cè)(Flutter)、二階微分偵測(cè)(Laplacian)、**電壓峰值判定(V1)、第三電壓峰值判定(V3)、波峰比(Peak Ratio)及波峰差比(ΔPeak %)。
脈沖測(cè)試
脈沖測(cè)試是將一個(gè) "非破壞性"、短暫且低能量的脈沖電壓施加在鉛酸電池芯上。當(dāng)施加脈沖測(cè)試時(shí)，由于19311/19311-10的內(nèi)部有一個(gè)諧振電感，所以電池芯會(huì)與內(nèi)部電感產(chǎn)生諧振。將測(cè)試的諧振波形加以分析或與樣品的諧振波形進(jìn)行比對(duì)來(lái)判斷出鉛酸電池芯是否為良品。對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯做脈沖測(cè)試，主要是為了在注入電解液之前發(fā)現(xiàn)鉛酸電池芯是否有絕緣**或是隔離膜不存在的問(wèn)題。在開(kāi)關(guān)打開(kāi)后，鉛酸電池芯與內(nèi)部電感諧振波形的電壓峰值衰減狀態(tài)代表著絕緣質(zhì)量的好壞。
八種判定功能
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面積比較 (Area)
面積比較可用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣**或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較，總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減， 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。
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面積差比較 (Differential Area)
面積差比較可用來(lái)檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重迭的面積所占的比例，此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異，當(dāng)電容量越大 波形諧振的頻率會(huì)越低，電容量越小波形諧振的頻率越高。
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顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來(lái)做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量，由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)非常高，導(dǎo)致波形的總量變大，因此可利用此特性來(lái)做接觸檢查的判斷。
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二次微分偵測(cè) (Laplacian)
二次微分偵測(cè)可以用來(lái)偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式，找出在脈沖測(cè)試的過(guò)程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電，所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。
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**電壓峰值 (V1)
諧振波形中的**個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，會(huì)導(dǎo)致**個(gè)電壓峰值比樣品的**個(gè)電壓峰值低。
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第三電壓峰值 (V3)
諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多，也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。
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波峰比 (Peak Ratio)
波峰比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例，當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快，導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小，所以絕緣質(zhì)量較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣質(zhì)量的狀態(tài)。
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波峰差比 (ΔPeak %)
波峰差比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量是否接近樣品的絕緣質(zhì)量。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異，利用比較的方式可以篩出絕緣質(zhì)量接近樣品絕緣質(zhì)量的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量與樣品的絕緣質(zhì)量一樣時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同，所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量低于樣品的絕緣質(zhì)量時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小，所以波峰差比為負(fù)數(shù)，表示待測(cè)物的絕緣質(zhì)量比樣品差。
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產(chǎn)品應(yīng)用
接觸檢查 Contact Check
接觸檢查功能利用諧振頻率的差異來(lái)檢測(cè)是否有連接到待測(cè)物。由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)變高，并可利用此頻率差異做檢測(cè)。使用者可依各自的需求對(duì)接觸檢查的靈敏度做調(diào)整，可將百分比的界線(xiàn)提高來(lái)增加接觸檢查的靈敏度或是將百分比的界線(xiàn)降低來(lái)減少接觸檢查的靈敏度。
崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩潰電壓分析功能，可設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓，利用電壓爬升過(guò)程偵測(cè)波形面積比(Area) 、二階微分偵測(cè)(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超過(guò)設(shè)定的限制，測(cè)試電池芯*大可承受的脈沖測(cè)試電壓。研究人員可利用此功能對(duì)鉛酸電池芯進(jìn)行分析與研究，及制定制造生產(chǎn)時(shí)脈沖測(cè)試的檢測(cè)電壓。
10/25 通道掃描測(cè)試
19311-10 單機(jī)有10個(gè)通道可進(jìn)行掃描測(cè)試，*多可以一次連續(xù)測(cè)試9個(gè)電池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以擴(kuò)增通道數(shù)至25個(gè)通道*一次*多可連續(xù)測(cè)試24個(gè)鉛酸電池芯。
Screenshot 畫(huà)面擷取功能
操作者可以利用快捷鍵擷取操作當(dāng)下屏幕上所顯示的畫(huà)面，顯示畫(huà)面的截圖的會(huì)儲(chǔ)存于插置在19311上的USB 隨身硬盤(pán)。
Export 數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能
操作者可以利用Export功能將每一次測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果導(dǎo)出并儲(chǔ)存于插置在19311/19311-10上的USB 隨身硬盤(pán)(USB flashdrive)。操作者亦可針對(duì)每一次的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。儲(chǔ)存文件格式為CSV（Comma Separated Values）。
